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  • JX-BH200M 透反射金相显微镜JX-BH200MS三目反射
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产品名称: JX-BH200M 透反射金相显微镜JX-BH200MS三目反射

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规格:
光学系统有限远色差校正光学系统
观察筒铰链式双目,30°倾斜,360°旋转,瞳距调节范围:54-75mm,双边±5屈光度可调;铰链式三目,固定式分光比,双目:三目=80%:20%(可选)
目镜PL10X高眼点平场目镜,线视场 18mm
物镜长工作距平场消色差金相物镜5X、10X、20X、50X、100X
转换器内定位四孔转换器内定位五孔转换器(选配)
调焦机构粗微调同轴,带机械上限位和松紧调节装置, 粗调行程28mm,微调精度0.002mm
载物台双层机械移动平台,附设180X145mm平板平台, 移动范围:76mmX50mm
照明系统反射式柯拉照明,自适应宽电压90V-24V,6V/30W卤素灯,光强连续可调,带可变孔径光阑与视场光阑,视场光阑中心可调
摄影装置摄影接筒(带PK卡口),3.2X摄影目镜
摄像装置0.35X/0.5X/1.0X  C型摄像接筒
其他可选功能简易偏光6V30W透射照明系统

标有“(选配)”为选配,其他为标配!
标配件已满足使用要求,如需选配件请咨询客服!


产品详情:

JX-BH200M系列正置金相显微镜

■采用平场消色差光学系统和落射式柯拉照明系统,同时在落射照明系统中设计

  防反射结构,有效防止反射光干扰成像光线,从而使成像更清晰、视场衬度更

  好。

■提供稳定可靠的操作机构,使成像更清晰,操作更简便。

■显微镜镜体采用全新的人机工程学设计,结构匀称,实现镜体扩展积木化。

■工作台、光强与粗微调的低位操作,提高了使用的舒适性。

■广泛应用于各类半导体硅晶片检测、材料科学研究、地质矿物分析及精密工程

  等学科领域。

服务:
JX-BH200M 透反射金相显微镜JX-BH200MS三目反射
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常见问题:
注意事项:

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